細(xì)胞遷移實(shí)驗(yàn)是研究細(xì)胞在體外條件下移動(dòng)能力的一種實(shí)驗(yàn)方法，可以模擬并觀察細(xì)胞如何在外界刺激下移動(dòng)，從而了解細(xì)胞遷移的機(jī)制和影響因素。

細(xì)胞侵襲實(shí)驗(yàn)?zāi)M體內(nèi)細(xì)胞穿越基質(zhì)屏障的過程，通常指細(xì)胞在趨化因子或生長(zhǎng)因子存在下，降解并穿透基質(zhì)層的能力。

細(xì)胞遷移和侵襲實(shí)驗(yàn)采用Transwell小室完成。目前，Transwell實(shí)驗(yàn)是隨機(jī)選取5個(gè)視野拍照并人工計(jì)數(shù)其中的細(xì)胞數(shù)。迅數(shù)光染色微孔板影像分析儀能夠?qū)崿F(xiàn)Transwell小室的全孔一次成像，并計(jì)數(shù)小室內(nèi)的細(xì)胞數(shù)，顯著提升實(shí)驗(yàn)效率，降低計(jì)數(shù)誤差。